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Microscopy of semiconducting materials : proceedings of the Royal Microscopical Society conference / Conference on Microscopy of Semiconducting Materials

Bristol [u.a.] : Inst. of Physics [1.]1979; 2.1981 - 6.1989

ZDB-ID

786141-2  

Titel

Microscopy of semiconducting materials : proceedings of the Royal Microscopical Society conference / Conference on Microscopy of Semiconducting Materials

Erschienen

Bristol [u.a.] : Inst. of Physics

Erscheinungsverlauf

[1.]1979; 2.1981 - 6.1989

Anmerkungen

Nebent.: MSM

Zusatz 3.1983: Proceedings of the Institute of Physics Conference

Forts. als Monographie behandelt

Weitere Titelhinweise

2=60; 3=67; 4=76 von:  Institute of Physics: Conference series  (ISSN: 0951-3248) 

1,1=118,1; 1,2=118,3 von:  Journal of microscopy  (ISSN: 0022-2720) 

5=87; 6=100 von:  Institute of Physics: Institute of Physics conference series 

Standardnummern

OCLC-Nr.: 633226415

Sacherschließung

DDC-Sachgruppen der ZDB: 530 Physik  ;  620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau 

Weitere Klassifikation(en):
Regensburger Verbundklassifikation (rvk): UH 6300

Erscheinungsform

Zeitschrift

Veröffentlichungsform

Kongressbericht

Medientyp

Druckausgabe

IDN

014327155

Letzte Änderung

03-09-22

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Zsn 55046
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2.1981 - 6.1989
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PHKM 700 Mic
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2.1981 - 6.1989
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ZSB 123
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[1.]1979
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UTB 3530
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3.1983
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Signatur der größeren Einheit: 8 Z NAT 1658
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1.1979
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Signatur der größeren Einheit: ZA 27793
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2.1981 - 6.1989; 8.1993 - 9.1995
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Signatur
UBN/MSMC
Standort
00
Bestand
1981; 3.1983 - 5.1987
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In: Z 2700
Bestand
[Bestellen mit Titel und Bandzählung von: Journal of microscopy]
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84 / Standortsignatur: 84/UH 6300 O98
Bestand
2.1981 - 6.1989
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