Annual report / Fraunhofer IZM - Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration (Berlin Fraunhofer IZM, 2005)
Bis 2014/2015 nur als CD-ROM-Ausgabe erschienen
Hauptsacht. von der Beil.
Ersch. jährl.
Text dt., engl.
Keywords: USB-Stick; Zeitschrift